測定機器情報

散乱、表面反射、輝度/色度/分光、配光、ビームプロファイル、表面形状、膜厚など、光学に関する幅広い測定器を取扱っております。

光学製品マップ PhelosPaiosFシリーズProfilm3DLaserView-LHBSR-5000GP-7RA-532HMini-Diff REFLET

こんなお困りごとありませんか?

  • シミュレーションと実測の結果が一致せずお困りの方
  • シミュレーションをより高い精度で行いたい方
  • 製品/試作品の表面品質や光学性能の定量評価を行いたい方

取扱い測定機器

高精度散乱測定器REFLET

@製品概要

REFLETは全世界で100台以上の実績を持つ高精度散乱測定器です。
任意の測定サンプルの2D/3Dの散乱分布(BRDF/BTDF)を高速かつ簡便に測定出来ます。
測定データは、LightToolsやLucidShapeなどの照明系シミュレーションツールに取込み可能な形式でファイル出力することができます。

A主な特長
  • 高速測定(1軸2Dスキャン:180°測定に約45秒)
  • 高ダイナミックレンジ(最大10*e9)
  • 可視光から近赤外領域までをカバー
  • LightToolsフォーマットへのデータ出力
B利用用途
  • レンダリングに必要な分光特性の正確な測定
  • 照明設計に必要な反射材質の特性評価
  • 自動車の灯体設計に必要な反射材質の特性評価
  • 分光と反射特性から分かる化粧品の特性指標
  • 液晶ディスプレイで利用する拡散シート類
  • 透過ガラスの散乱特性
C測定項目
  • BSDF(BRDF/BTDF)測定

REFLET製品サイト

小型簡易散乱測定器Mini-Diff V2

@製品概要

Mini-Diffは手頃な価格と場所をとらない扱いやすいコンパクトサイズで、簡単に光学部材の散乱を測定することが出来ます。
また、測定データをLightToolsやLucidShapeを始めZEMAX、TracePRO、Reluxソフトウェア上にも簡単に取り込むことができます。

A主な特長
  • 受光部にCCDカメラを採用し、一回の測定で半球分の散乱データを取得可能
  • 複数の入射角度での散乱測定が可能(反射:0,20,40,60度、透過:0,20,40,60度)
  • 複数の波長での散乱測定が可能(465nm, 525nm, 630nm)
  • 小型・軽量・USBバスパワーにより場所を選ばずに使用可能
B利用用途
  • LCDバックライトの拡散シート
  • リフレクターの散乱特性(照明デザイン)
  • リフレクター・拡散板の散乱特性(自動車内外装デザイン)
  • 再帰反射性シート
  • 屋外に存在する様々な物の散乱特性
C測定項目
  • BSDF(BRDF/BTDF)測定

Mini-Diff V2製品サイト

表面反射アナライザーRA-532H

@製品概要

RA-532Hは商品表面の質感を定量化するために5つの指標(光沢度、ヘイズ、写像性、拡散度、BRDF)を一括測定するコンパクトな測定器です。測定器に搭載されている観測カメラを用いると評価ポイントの位置合わせも容易に行えるため、測定から結果までを短時間で行えます。

A主な特長
  • 観測カメラ搭載で、測定箇所を観測しながら測定可能
  • 1回の測定で、光沢度、ヘイズ、写像性、拡散度の4つの指標+2次元のBRDFを一度に出力可能
  • キヤノン独自指標によりメタリックフレークや塗装色の影響による、絶対値がオフセットする欠点を回避。像鮮明性を判定可能
  • 鏡面から完全拡散面まで幅広い対象物を測定可能
B利用用途
  • 印刷物
  • ディスプレイ
  • 塗装面
  • 自動車塗装面やコーティング面
  • フィルム
C測定項目
  • 光沢度
  • ヘイズ
  • 写像性
  • 拡散度
  • BRDF(20°/60°)

RA-532H製品資料

高速ニアフィールド配光測定システムGP-7

@製品概要

GP-7は光源単体や光学材料の配光を評価するゴニオ式の配光測定装置です。1回の測定であらゆる空間照度を測定し配光分布、任意の距離での照度分布に変換できます。1.5m角に収まるコンパクトな装置サイズで暗室不要です。

A主な特長
  • 照明設計ソフトLightTools用光源データ出力が可能
  • 従来の測定器と比較して大幅に測定時間を短縮(10分)
  • ニアフィールド測定が可能
  • 任意の位置・距離での照度・光度の算出が可能=ファーフィールドへの変換
B利用用途
  • 自動車ヘッドランプ、ルームランプなどの灯火器
  • 街路灯、投光器、スポットライトなど
  • 有機ELや液晶などのディスプレイ視野角特性
  • 赤外線センサーの配光特性
C測定項目
  • 輝度光線データ
  • 照度/光度/配光データ
その他、分光器、2D面輝度計なども取り扱っております。

GP-7製品資料
LiDAR測定、UV/NIR測定事例

2D分光放射計SR-5000

@製品概要

SR-5000は面一括で分光放射を測定できるハイパースペクトル計測方式を採用した測定器です。国家標準に直結したトレーサビリティを確立しています。
専用ソフトウェアにて、任意の測定スポットにおける分光スペクトルの重ね合わせによる比較や、異なる光源下における「物体色シミュレーション」、年齢別分光感度や視覚特性に対応した「視認性シュミレーション」を行うこともできます。
その他、超低輝度対応機、近赤外対応機、2D色彩輝度計、なども取り扱っております。

A主な特長
  • 1nm毎の分光測光方式
  • XYZフィルタ方式での測定も可能なハイブリッドタイプもあり
  • マクロレンズタイプでは、サブピクセル単位での分光測定が可能であり、絶対値精度は点輝度計と同等
B利用用途
  • ディスプレイ(LCD、OLEDなど)の輝度、色度ムラ、分光スペクトルの評価
  • 自動車内外装(インパネ、HUD、DRL、リアランプ、など)の発光分布特性、分光スペクトルの評価
  • 光源(LED、マイクロLED、OLED、マイクロLEDなど)の発光部の輝度、色度ムラ、発光スペクトルの評価
  • 物体色(塗装、自動車内装部材、など)の色ムラの可視化
  • 透明部材(光学膜、フィルム、など)の干渉縞、分光透過率の評価
  • タッチセンサーのモアレの評価
  • 半導体ウエハの塗布材料の膜厚解析
  • レーザースキャン(LiDAR、など)の分光測定
  • VRシステムの輝度、色度、面内ムラの簡易評価(相対値管理)
C測定項目
  • 分光スペクトル
  • 輝度
  • 色度

SR-5000製品資料
OLED/LEDチップ測定事例
製品ラインナップ

大口径・高出力対応ビームプロファイラLaseView-LHB

@製品概要

LaseView-LHBは測定する大口径ビームをスクリーンに照射し、スクリーンからの散乱光を後方からCCDカメラで撮影することにより、大口径ビームの測定を可能にしております。特殊なスクリーンを採用することで、100 W/cm2以上の高強度ビームの直接入射を可能にし、高い分解能と感度均一性を実現した測定器です。レーザーをはじめ様々な用途のプロファイルを瞬時に確認する事ができます。

A主な特長
  • ビームを受ける大口径スクリーンを採用
  • スキャニングするレーザーなどを測定可能
  • 波長域が可視〜赤外(〜1700nm)まで対応可能(※カスタム対応)
  • 多段LEDのパルス発光評価
B利用用途
  • レーザーやLEDなどの光源
  • 光ファイバー
  • レーザープロジェクタのスキャン評価
  • 回折レーザー光
C測定項目
  • ビームプロファイル/広がり角の測定
  • ビームの経時変化/品質測定

LaseView-LHB製品資料

シミューレーションソフトCODE Vとの連携資料

3D表面形状測定システムProfilm3D

@製品概要

Profilm3Dは、垂直走査白色干渉法と位相シフト干渉法を組み合わせ、ナノレベルの精度で粗さ・段差などの表面形状を非接触で測定するシステムです。XY自動ステージおよびオプションの対物レンズを用いる事により、目的のエリア、サイズで測定が行えます。高精度の白色干渉方式の測定システムでありながら低価格を実現しています。

A主な特長
  • ナノレベルの高い精度とスピーディーな測定
  • 50nm-10mmの3次元形状を測定
  • 光干渉の原理を用いた非接触測定
  • マウス操作でオペレーションが容易
  • 10倍レンズ使用時2mm角のワイドな視野
  • デジタルズーム併用で様々な測定条件に対応
  • コンパクト(卓上サイズ)
  • 低価格
B利用用途
  • 半導体ウエハ、電子基板、電子部品、MEMS等
  • 自動車部品
  • フラットパネル用、各種ガラス、フィルム
  • 光学部品
  • 医療用鋼製小物
C測定項目
  • 表面の粗さ測定

分光膜厚測定システムFシリーズ

@製品概要

Fシリーズは光の干渉を利用した反射率分光方式の非接触膜厚測定システムです。
膜厚測定器本体には光源と分光器が内蔵されています。光源からの光がステージ上の測定サンプルに照射され、測定サンプル表面からの反射光と境界面からの反射光とが分光器に入り、二つの反射光が干渉して生じた干渉スペクトラムを基に膜厚を解析します。
小型ながら高速かつ短時間で測定できるように設計されています。

A主な特長
  • シングルポイント膜厚測定システム:透明、半透明の膜の厚みをワンクリックで簡単に測定可能
  • 顕微鏡式膜厚測定システム:紫外(200nm〜)や赤外(〜1700m,)に対応のモデルもあり(汎用顕微鏡にも対応可能)
  • 自動マッピング膜厚測定システム:自動でウエハーの複数のポイントを測定可能
B利用用途
以下のような物に使用される薄膜
  • 半導体
  • フラットパネル
  • フィルム
  • レンズ(ヘッドライト、メガネ、など)
  • 医療器具(ステント、注射針、など)
C測定項目
  • 膜厚、屈折率、反射率
  • 透過率(オプション)

有機ELと太陽電池の測定プラットフォームPaios

@製品概要

Paiosはたった1クリックでインピーダンス分光やPhoto-CELIV、ダークインジェクション、IV特性など多岐にわたる実験を瞬時に実行します。一貫性のある詳細な測定データを取得し、結果をソフトウェア上で直接比較すれば、研究スピードを加速できます。

A主な特長
  • コンパクトにまとまった高精度で高速、高解度な測定ユニット
  • プローブを利用した柔軟な接触方法※試料ホルダーのカスタマイズ可
  • 測定データの定義、測定、比較や保存が柔軟に行えるソフウェア
  • ユーザ定義実験や柔軟なプロットが可能
B利用用途
  • OLED
  • 太陽電池
  • MISキャパシター
  • ユニポーラデバイス
C測定項目
  • IV(電流電圧)特性
  • 光パルスに対する過渡的光電流(TPC)応答
  • 過渡的光電圧、電流
  • DIT(Dark Injection Transient)
  • インピーダンス分光
  • 電圧パルス
  • Dark-CELIV、光CELIV、他
  • 電流-電圧-発光特性
  • TEL(過渡的EL)

Paios製品サイト

輝度配光スペクトル測定器Phelos

@製品概要

PhelosはOLEDのスペクトルを広範囲の角度で自動で測定することが出来ます。発光効率を計算したり、偏光特性の測定・解析により、デバイス内部の発光分子などのパラメータ情報を得ることが出来ます。またPhelosはスタンドアローンの測定器として、或いはPaiosの電気測定プラットフォームと接続して使用することも出来ます。

A主な特長
  • Phelosによる測定とSetfosによるシミュレーションを簡単に統合可能
  • 放射スペクトルの角度変化から、エミッタ分子の向きと位置の導出
  • 実験とシミュレーションを組み合わせてデバイスの内部での振舞いを分析
  • 光学マイクロキャビティ放射モデルとの統合による測定結果のシミュレーション
B利用用途
  • OLED
C測定項目
  • 効率測定:EQE、Lm/W、Cd/A(luminous efficacy)
  • 角度ごとのスペクトル・色座標
  • IVL(電流電圧輝度)特性
  • 光ルミネセンス
  • 偏光

Phelos製品サイト

参考資料

測定機器に関する詳しい資料※はこちらよりダウンロード頂けます。
※資料は、2017年版の測定ソリューション紹介セミナーのダイジェスト資料となります。

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